<tfoot id="esiso"></tfoot>
<strike id="esiso"></strike>
從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現大范圍波長區域中的分光測定
奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區域至近紅外區域的大范圍波長的分光測定。
由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區域、曲面的反射率，因此十分適用于光學元件與微小的電子部件等產品。
使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。
測定反射率 測定以物鏡聚光φ17～70μm的微小點的反射率。 反射率測定光路圖
反射率測定例：鏡片 反射率測定例：鏡片周邊部位
膜厚測定的圖例
測定膜厚
測定物體顏色
從受臺下部透過φ2mm的平行光，測定平面樣品的透過率。（選配）
透過率測定光路圖
光學系圖
使用平面光柵及線傳感器進行全波長同時分光測定，從而實現高速測定。
反射率測定圖例
*適用于測定細小部件、鏡片的反射率
消除背面反射光的原理
定反射率時，不需要背面防反射處理
可選擇的膜厚測定方法 根據測定的分光反射率數據進行單層膜或多層膜的膜厚解析。可以根據用途選擇*佳的測定方法。
峰谷法膜厚解析經過信息圖例 峰谷法 這是一種根據測定的分光反射率值的峰值與低谷的周期性計算出膜厚的方法，對于測定單層膜是有效的。不需要復雜的設置，可以簡單地求出。
峰谷法膜厚解析經過信息圖例
傅里葉轉換法膜厚解析經過信息圖例
傅里葉轉換法
曲線調整法膜厚解析經過信息圖例
曲線調整法
數碼相機鏡片
適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。
適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。
適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。
USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀規格：
*1 選件組件 *2 本社測定條件下的測定 *3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。
*4 點徑
<ul id="w2cgs"></ul>
<strike id="w2cgs"></strike>